Imagerie spectrale : spectrométrie + photographie

L'imagerie spectrale est le croisement de la photographie et de la spectrométrie de reflectance. Cette technique enregistre la réflexion par le matériau de l'oeuvre de la lumière envoyée et cela longueur d'onde par longueur d'onde ou bien à l'échantillonage choisi. Cela correspond par exemple à l'enregistrement de 40 images différentes pour le spectre visible (380-780 nm) si on échantillonne tous les 10 nm.

Représenté autrement, c'est une image constituée de pixels contenant, non plus trois valeurs RVB comme en photographie, mais le spectre complet de reflectance du matériau, avec 40 points relevés si on reprend notre exemple du visible échantillonné tous les 10 nm.

 

Sachant que la spectrométrie de réflectance mesure sur un seul point de 1mm environ et permet de :

- quantifier une couleur dans un système normalisé comme le CIELAB. Il s'en suit également la possibilité de suivre et de chiffrer un changement de couleur, comme une dégradation ou bien une restauration.

- reconnaitre certains pigments grâce à la forme caractéristique de leurs courbes spectrales dans la zone UV-VIS-IR,

l'imagerie hyperspectrale ajoute à ces possibilités une corrélation spatialle des données de couleurs ou de pigmen

 

 

Le centre a une caméra hyperspectrale VIS-IR sensible de 400 à 1000 nm à 3 nm d'échantillonage

 

Pour en savoir plus :

- Thèse d'Anita Hayem-Guez, « Caractérisation des pigments de peintures de chevalet par des méthodes optiques non-invasives », C2RMF SOSCO Université de Cergy, 2011-2014

- Thèse de Guillaume Dupuis : Couleur de la matière picturale : caractérisation des pigments et des mélanges de pigments, effets induits par l’adjonction de liant et de charges, présentée et soutenue publiquement le 18 juin 2004, Spécialité Optique, Université Paris XI

- Thèse de Lionel Simonot : Etude expérimentale et modélisation de la diffusion de la lumière dans une couche de peinture colorée et translucide – application à l’effet visuel des glacis et des vernis, soutenue le 4 novembre 2002, Discipline Optique et photonique, Université Paris VI

- Visible and infrared reflectance imaging spectroscopy of paintings : Pigment mapping and improved infrared reflectography , John K. Delaney, Jason G. Zeibel, Mathieu Thoury, Roy Litteton, Kathryn M. Morales, Michael Palmer, E. René de la Rie, National Gallery of Art, Optics for Arts, Architecture and Archaelogy II – Proceedings of SPIE 7391 (2009) – 739103-739108