MEB-EDS

Le MEB utilise un faisceau d'électrons primaires focalisé qui balaye la surface d'un échantillon. Les électrons interagissent avec les atomes de surface, générant divers signaux. Parmi ceux-ci 3 sont exploités sur les MEB-EDS du C2RMF ; leur détection fournit différentes informations :

• la topographie avec les électrons secondaires
• le contraste chimique avec les électrons rétrodiffusés
• la composition élémentaire de la surface du matériau avec les rayons X 

 Le MEB permet ainsi d’étudier à l’échelle microscopique la morphologie et la composition d'un objet/échantillon.

Le microscope électronique à balayage permet de façon simple d’observer et d’analyser presque tous les types de matériaux étudiés au C2RMF (peinture, polychromie, terre cuite, verre, métal, …). 

Les études par microscopie électronique permettent de répondre à diverses questions concernant la composition et la provenance des matériaux constitutifs des œuvres, les techniques de création, les phénomènes d’altération, parfois la datation, et elles sont un soutien à la restauration. 

Avantages :

• Images et analyses simultanées
• Simplicité d’utilisation
• Possibilité d’observer sans prélèvement les objets de petites dimensions peu fragiles (capables de supporter le vide et l’impact du faisceau d’électrons)(terre cuite, métal, verre non altéré, fibre textile,…)
• Non destructif

Inconvénients :

• L’objet doit être mis sous vide
• Peu adapté aux matériaux organiques
• Pour les objets de grande taille (qui ne rentrent pas dans la chambre du MEB) ou fragiles, nécessité de réaliser un prélèvement. 
• Pour les analyses si l’échantillon n’est pas conducteur il faut lui appliquer une couche conductrice (carbone, platine,…)
• Il s’agit d’analyse élémentaire, donc pas d’information sur la structure

• MEB Jeol JSM7800F / EDS Brüker Quantax Duo à 2 détecteurs SDD de 30mm2, piloté par le logiciel Esprit.
• MEB Hitachi SU3900 / EDS Oxford Aztec associé à un détecteur SDD Ultim-Max de 40mm2