Instrument de µ-DRX

Il s’agit d’une analyse ponctuelle consistant à envoyer un faisceau de rayons X, ayant des caractéristiques déterminées, qui en rencontrant les cristaux constitutifs de la matière va être renvoyé dans des directions spécifiques en lien avec la structure de chacun des composés. Pour ce faire, l’échantillon, ou l’œuvre, doit être très précisément positionné entre le faisceau de rayons X et le détecteur. Les informations recueillis sont alors traitées informatiquement pour obtenir un diffractogramme dont les pics permettent de caractériser les matériaux présents grâce à des bases de données internationales.

Cette technique va être employé lorsqu’une caractérisation plus fine que l’analyse élémentaire est nécessaire. En effet, deux composés ayant la même formule chimique peuvent avoir une structure cristalline différente. Cela permet alors de préciser la composition de la matière analysée. Il s’agit d’une technique utilisée dans de multiples domaines, et notamment au C2RMF pour l’étude des pigments, des argiles et céramiques, ainsi que des produits de corrosions des métaux.

L’avantage réside avant tout dans la caractérisation précise et indiscutable des différents composés de la matière. Bien évidemment, chaque technique a également ses inconvénients qui sont pour la DRX, d’une part le fait qu’elle ne permet de déceler que les matériaux cristallisés, et d’autre part qu’elle nécessite un positionnement précis et délicat de l’échantillon. Cependant, le prototype développé au C2RMF a l’énorme, et peu commun, avantage de pouvoir réaliser l’analyses non invasive des œuvres.

Le montage de l’équipement est un prototype réalisé au C2RMF avec une source de rayons X GENIX 3D Cuivre de marque XENOCS et un diffractomètre de laboratoire Rigaku R-Axis IV++.