Plateau instrumental et technique

Etudes optiques : 

1. Luminescence IR
2. Imagerie UV
3. Imagerie fausses couleurs
   1. IRFC : Imagerie infrarouge fausse couleur
   2. UVFC : Imagerie par réflexion des Ultraviolets traité en fausses couleurs
4. Hyperspectrale

Etudes mécaniques : 

1. Nanoindenteur

Etudes de surface : 

1. RTI
2. Microtopographie
3. Tomographie en cohérence optique - OCT

Analyses structurelles : 

1. Microscope à balayage électronique - MEB

Analyses élémentaires

     Non invasif

1. LIBS / LIBS-LIF-RAMAN
2. Particle Induced Gamma Emission - PIGE
3. Particle Induced X-ray Emission - PIXE
4. PixXL
5. XRF ponctuelle et 2D
   1. ELIO
   2. ISTAR

     Invasif

1. Microscope à balayage éléctronique - MEB
2. spectrométrie de masse à plasma induit par couplage inductif par ablation au laser - LA-ICP-MS

    Elémentaires en profondeur

1. Spectroscopie de rétrodiffusion de Rutherford - RBS
2. Confocale

Analyses structurelles

     Non invasif

1. RBS
2. RAMAN
3. Diffraction X
4. Hyperspectrale

     Invasif

1. Pétrographie

Analyses moléculaires

     Spectromètres de masse couplés

1. Chromatographie
2. Py-GCMS 

     Spectroscopie Infrarouge- IRTF

1. IRTF

1. RTI 
2. Microtopographie

1. Photographie
2. Radiographie
3. Tomographie X
4. Binoculaire 
5. Modélisation 3D
   1. Photogrammétrie
   2. Microtophographie
   3. Scanner à projection de franges
   4. Lasergrammétrie
6. Microscopie 3D
7. Microscopie optique

1. ATD- analyse thermique différentielle
2. Nanoindenteur

1. Photographie
2. Binoculaire
3. Modélisation 3D
   1. Photogrammétrie
   2. Microtophographie
   3. Scanner à projection de franges
   4. Lasergrammétrie
4. Microscopie 3D
5. OCT
6. Microscopie optique

La datation indirecte est une méthode essentielle pour estimer les périodes d'usage ou le contexte d'utilisation des matériaux identifiés. Contrairement aux méthodes de datation directe, qui mesurent l'âge absolu d'un objet, la datation indirecte repose sur l'analyse des résultats contextuels pour fournir des estimations précises. Les techniques décrites dans la partie 1 "Caractérisation des éléments constitutifs des œuvres" permettent par la contextualisation des résultats une datation indirecte. 

 

Méthodes de préparation à la datation :

1. Préparation C14
2. Robot de préparation

Mesure de la datation :

1. Thermoluminescence
2. Dendrochronologie
3. NaI(TI)
4. Comptage Alpha

1. Confocale
2. Modélisation 3D
   1. Photogrammétrie
   2. Microtophographie
   3. Scanner à projection de franges
   4. Lasergrammétrie
3. Mithra
4. XRD-XRF Hydra
5. XRF ponctuelle et 2D
   1. ELIO
   2. ISTAR
6. Photographie
7. SYSPECTRAL